8 (812) 318-50-90
8 (800) 555-777-9

Спектрометр рентгенофлуоресцентный EDX 660 (Skyray, США)

Разработан для анализа драгоценных металлов и толщины покрытия

Погрешность анализа: 0.1%
Напряжение: 0-50КВ
Время анализа: 60-300 сек.
Элементы анализа: Au Ag Cu Zn Ni Pd Pt  Rh
Погрешность при анализе толщины покрытия: 0.05um
Ток в трубке: 0-600uA
Входное напряжение: AC 110V / 220V 
Соответствующая влажность: ≤70%

Форма вещества: твердая, порошкообразная, жидкость

 

Размеры коробки (LxWxH) (mm):

700*400*380

Размеры инструмента (LxWxH) (mm):

650*320*320

Вес брутто (kg):

34

Вес нетто (kg):

26